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納米粒度測試：

采用動態(tài)光散射技術(shù)

測試范圍0.3nm-5um
適用體系：所有能夠穩(wěn)定存在于溶液中作布朗運動的顆粒。典型體系包括：乳液，有機/無機顆粒，自然/合成高分子溶液，表面活性劑，蛋白質(zhì)樣品等等
 
Zeta電位測試 ：
采用相分析光散射（M3-PALS）+激光多普勒電泳技術(shù)
Zeta電位測量范圍：無實際限制
樣品要求：遷移率：0～無實際上限；電導(dǎo)率范圍：0-200mS/cm；粒徑范圍：4nm-100um
適用體系：水相或有機相中穩(wěn)定存在，或做緩慢沉降運動的顆粒。典型體系包括：金屬、有機顆粒、蛋白質(zhì)、聚電解質(zhì)、無機氧化物、乳液、漿料、煤黑、油墨、炭黑等等
 
表面電位測試：
檢測各種表面和吸附在表面的材料的Zeta電位
檢測外部環(huán)境，如pH，離子濃度，以及吸附效果，如蛋白、表面活性劑的影響
適用體系：固體表面、硅片、高分子膜、玻璃、膜、涂層等等
 
設(shè)備參數(shù)：
激光器：4mW He-Ne高性能激光，633nm
溫度范圍：0ºC～90ºC
藍(lán)色樣品無法檢測